Elektronenstrahl-Mikroanalyse

Elektronenstrahl-Mikroanalyse
E|lek|t|ro|nen|strahl-Mi|k|ro|a|na|ly|se; Abk.: ESMA; Syn.: EPMA, EMA: ein Verfahren der Elektronen-Spektroskopie zur qual. u. quant. Analyse der Oberflächen von Werkstoffen mit Hilfe einer sog. Elektronensonde (Elektronenmikrosonde, Röntgenmikrosonde). Ein gebündelter Elektronenstrahl schlägt aus kernnahen Elektronenschalen ein Elektron heraus, dessen Platz von einem nachrückenden Elektron aus einer höhergelegenen Schale eingenommen wird. Die dabei frei werdende Energie wird als Röntgenquant mit elementcharakteristischer Energie abgestrahlt u. gemessen.

Universal-Lexikon. 2012.

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  • Rasterelektronenmikroskopie — Staubprobe von den WTC Anschlägen mit dem Rasterelektronenmikroskop aufgenommen Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (englisch Scanning Electron Microscope, SEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem… …   Deutsch Wikipedia

  • Scanning Electron Microscope — Staubprobe von den WTC Anschlägen mit dem Rasterelektronenmikroskop aufgenommen Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (englisch Scanning Electron Microscope, SEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem… …   Deutsch Wikipedia

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  • Mikrosonde — Die Elektronenstrahlmikroanalyse (engl. electron probe micro analysis, EPMA, oder engl. x ray microanalysis) dient primär der zerstörungsfreien Analyse von Festkörperoberflächen mit lateraler Auflösung bis zu 1 µm. Das Prinzip beruht auf der… …   Deutsch Wikipedia

  • Elektronenstrahlmikroanalyse — Die Elektronenstrahlmikroanalyse (ESMA; engl. electron probe micro analysis, EPMA, oder X ray microanalysis) dient primär der zerstörungsfreien Analyse von Festkörperoberflächen mit lateraler Auflösung bis zu 1 µm. Das Prinzip beruht auf der… …   Deutsch Wikipedia

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